【目标检测】半导体晶圆缺陷数据集6174张YOLO+VOC格式

作品简介

数据集格式:VOC格式+YOLO格式

压缩包内含:3个文件夹,分别存储图片、xml、txt文件

JPEGImages文件夹中jpg图片总计:6174

Annotations文件夹中xml文件总计:6174

labels文件夹中txt文件总计:6174

标签种类数:7

标签名称:["Short_circuit","edge_bite","gray_line","open","scratch","short_cricuit","stains_enbedded"]

每个标签的框数(注意yolo格式类别顺序不和这个对应,而以labels文件夹classes.txt为准):

Short_circuit 框数 = 1821

edge_bite 框数 = 1182

gray_line 框数 = 1187

open 框数 = 1152

scratch 框数 = 3105

short_cricuit 框数 = 4

stains_enbedded 框数 = 3494

总框数:11945

图片清晰度(分辨率:像素):清晰

图片是否增强:否

标签形状:矩形框,用于目标检测识别

重要说明:暂无

特别声明:本数据集不对训练的模型或者权重文件精度作任何保证,数据集只提供准确且合理标注

标注示例:

图片概览:





创作时间: