半导体芯片破损表面划痕引脚断裂缺陷检测数据集VOC+YOLO格式1776张4类别

作品简介

注意数据集中图片有大量旋转增强图片

数据集格式:Pascal VOC格式+YOLO格式(不包含分割路径的txt文件,仅仅包含jpg图片以及对应的VOC格式xml文件和yolo格式txt文件)

图片数量(jpg文件个数):1776

标注数量(xml文件个数):1776

标注数量(txt文件个数):1776

标注类别数:4

所在github仓库:firc-dataset

标注类别名称(注意yolo格式类别顺序不和这个对应,而以labels文件夹classes.txt为准):["chip_broken","chip_pinbreak","chip_scratch","chip_zf_scratch"]

每个类别标注的框数:

chip_broken 框数 = 446

chip_pinbreak 框数 = 816

chip_scratch 框数 = 1323

chip_zf_scratch 框数 = 1286

总框数:3871

每个类别占有图片数:

chip_broken 占有图片数 = 446

chip_pinbreak 占有图片数 = 320

chip_scratch 占有图片数 = 754

chip_zf_scratch 占有图片数 = 732

图片分辨率:512x512

使用标注工具:labelImg

标注规则:对类别进行画矩形框

重要说明:数据集没有划分训练验证测试集需自行划分

特别声明:本数据集不对训练的模型或者权重文件精度作任何保证

图片预览:



标注例子:




创作时间: